薄膜測厚儀的技術特點介紹
更新時間：2021-05-12 點擊次數：1338
薄膜測厚儀，又稱為測厚儀、薄膜厚度檢測儀、薄膜厚度儀等，薄膜測厚儀專業(yè)適用于量程范圍內的塑料薄膜、薄片、隔膜、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度精確測量。
薄膜測厚儀的技術特點介紹
嚴格按照標準設計的接觸面積和測量壓力，同時支持各種非標定制
測試過程中測量頭自動升降，有效避免了人為因素造成的系統(tǒng)誤差
支持自動和手動兩種測量模式，方便用戶自由選擇
實時顯示測量結果的*大值、*小值、平均值以及標準偏差等分析數據，方便用戶進行判斷
配置標準量塊用于系統(tǒng)標定，保證測試的精度和數據一致性
系統(tǒng)支持數據實時顯示、自動統(tǒng)計、打印等許多實用功能，方便快捷地獲取測試結果
系統(tǒng)由微電腦控制，搭配液晶顯示器、菜單式界面和PVC操作面板，方便用戶進行試驗操作和數據查看
支持Lystem™實驗室數據共享系統(tǒng)，統(tǒng)一管理試驗結果和試驗報告
標準的RS232接口，便于系統(tǒng)的外部連接和數據傳輸
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